3506-10 LCR測(cè)試儀

描述：3506-10 LCR測(cè)試儀對(duì)應(yīng)1MHz測(cè)試, 低容量,高精度,高速測(cè)試
● 模擬測(cè)量時(shí)間0.6ms（1MHz）的高速測(cè)量
● 提高了抗干擾性，在產(chǎn)線的上也能實(shí)現(xiàn)高反復(fù)精度
● 1kHz、1MHz測(cè)量下，低電容的貼片時(shí)可穩(wěn)定測(cè)量
● 根據(jù)BIN的測(cè)定區(qū)分容量

產(chǎn)品型號(hào)：
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間：2023-11-12
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標(biāo)題：3506-10 LCR測(cè)試儀

產(chǎn)品概述

3506-10 LCR測(cè)試儀

對(duì)應(yīng)1MHz測(cè)試, 低容量,高精度,高速測(cè)試

● 模擬測(cè)量時(shí)間0.6ms(1MHz)的高速測(cè)量
● 提高了抗干擾性，在產(chǎn)線的上也能實(shí)現(xiàn)高反復(fù)精度
● 1kHz、1MHz測(cè)量下，低電容的貼片時(shí)可穩(wěn)定測(cè)量
● 根據(jù)BIN的測(cè)定區(qū)分容量

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