IM7585阻抗分析儀高速、高穩(wěn)定性測量，提高生產(chǎn)量！測量時間：Z快0.5ms，測量值偏差0.07% ● 測量頻率：1MHz~1.3GHz

IM7587 阻抗分析儀 可信賴的機型3GHz ● 測試電壓測量頻率：1MHz~3GHz ● 測量時間：Z快0.5ms（模擬測量時間） ● 測量值偏差：0.07%（測量頻率1GHz時的代表值） ● ● 緊湊主機僅機架一半大小，測試頭尺寸僅手掌大小 ● 豐富的接觸檢查（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定） ● 分析模式下可以邊掃描測量頻率、測量信號電平邊進行測量

3504-60 C測試儀封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等 ● 高速測量2ms ● 能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測量值，進行被測物合格與否的判斷 ● 對應測試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能 ● 3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的測試 ● 3504-40記錄工具，實現(xiàn)高速/低成本的測試 ● 查出全機測量中的接觸錯誤，提高成品率

3504-50 C測試儀封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等 ● 高速測量2ms ● 能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測量值，進行被測物合格與否的判斷 ● 對應測試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能 ● 3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的測試 ● 3504-40記錄工具，實現(xiàn)高速/低成本的測試 ● 查出全機測量中的接觸錯誤，提高成品率

3504-40 C測試儀 封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等 ● 高速測量2ms ● 能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測量值，進行被測物合格與否的判斷 ● 對應測試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能 ● 3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的測試 ● 3504-40記錄工具，實現(xiàn)高速/低成本的測試 ● 查出全機測量中的接觸錯誤，提高成品率

3506-10 LCR測試儀 對應1MHz測試, 低容量,高精度,高速測試 ● 模擬測量時間0.6ms（1MHz）的高速測量 ● 提高了抗干擾性，在產(chǎn)線的上也能實現(xiàn)高反復精度 ● 1kHz、1MHz測量下，低電容的貼片時可穩(wěn)定測量 ● 根據(jù)BIN的測定區(qū)分容量

3511-50 LCR測試儀精巧，非常專業(yè)，5ms快速測量LCR ● 高速測量：5ms（1kHz）或13ms（120Hz） ● 高精度： ± 0.08% ● 內(nèi)置比較器

IM3533 LCR測試儀基本精度±0.05％，測量范圍廣（DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA）。 ● 在例如C-D和ESR這樣的混合測量條件下，不間斷測試，速度比以往產(chǎn)品快10倍。